전자현미경 원리 및 시편준비

전자현미경 원리 및 시편준비

전자현미경 원리 및 시편준비.hwp

본문 1. 실험의 목적 재료의 표면을 현미경으로 관찰하면 석출상이나 결정립의 크기 및 형상 등을 판단할 수 있다. 광학 현미경이 배율 X 2,000 이하의 이미지를 얻을 수 있는데 비해 일반적으로 사용되는 주사전자현미경(Scanning Electron Microscopy)은 배율 X 100,000 이하의 고배율 이미지를 얻을 수 있고, FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscopy)는 최고 X 500,000의 배율로도 재료를 관찰 할 수 있다. 주사전자현미경 사진을 통해 재료 단면형상의 관찰, 분말의 입자 크기, 그 리고 박막재료의 두께 등을 알 수 있는데, 이에 따른 기계적 특성 변화 를 해석할 수 있게 된다. 제작한 세라믹 재료의 표면형상 및 평균 결정립 크기를 주사전자현미경 사진 분석을 통해 측정해봄으로써 주사전자현미 경에 대한 일반적인 이해를 얻는다. 참고문헌 11. 참고문헌 -네이버 백과사전 -http://blog.naver.com/kchshin?Redirect=Log&logNo=30085260006 -http://blog.naver.com/suffdayz?Redirect=Log&logNo=120002561330 하고 싶은 말 열심히 작성하고 좋은 평을 받은 자료 입니다. 감사합니다. 키워드 편의, 시험편의, 단면, 현미경, 크기